数学 › 解析学(実解析) › 測度空間と Carathéodory の拡張定理

外測度と Carathéodory 可測性

定義 3.1(「測度空間と Carathéodory の拡張定理」§3)

XX 上の外測度とは、写像 μ∗:2X→[0,∞]\mu^{*} : 2^{X} \to [0, \infty] で、(1) μ∗(∅)=0\mu^{*}(\emptyset) = 0、(2) A⊂BA \subset B ならば μ∗(A)≤μ∗(B)\mu^{*}(A) \le \mu^{*}(B)、(3) μ∗(⋃nAn)≤∑nμ∗(An)\mu^{*}\bigl(\bigcup_n A_n\bigr) \le \sum_n \mu^{*}(A_n)、を満たすものをいう。部分集合 E⊂XE \subset X が μ∗\mu^{*}-可測(Carathéodory の条件を満たす)であるとは、すべての A⊂XA \subset X に対して

μ∗(A)=μ∗(A∩E)+μ∗(A∩Ec)\mu^{*}(A) = \mu^{*}(A \cap E) + \mu^{*}(A \cap E^{c})

が成り立つことをいう。μ∗\mu^{*}-可測集合全体を M(μ∗)\mathcal{M}(\mu^{*}) と書く。

本文で読む(前後の説明と例)→

閉包の状態

定義

定義は閉包の起点です(証明を要しません)。

印の意味: ✓公理まで証明済み ・ △証明あり(閉包未完)・ ※主張のみ。テーマごとの集計は 閉包の状況。

これを使っている定理

証明で明示的に参照している定理は、まだありません。

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