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有限のテストの不完全性

定理 2.2(「テストの理論」§2) ・ ✓公理まで証明済み

仕様 (D,S)(D, S) を満たす実装 ff が存在するとし、T⊆DT \subseteq D をテスト集合、OO を正確なオラクルとする。

  1. ある x∗∈D∖Tx^{*} \in D \setminus T と y∗∈Yy^{*} \in Y について (x∗,y∗)∉S(x^{*}, y^{*}) \notin S であるとする。このとき、TT に合格し、仕様 (D,S)(D, S) を満たさない実装 gg が存在する。gg は、ff に「入力が x∗x^{*} と等しいか」を調べる分岐を 1 つ足したものにとれる。
  2. とくに DD が無限集合で、SS がどの入力についても何らかの出力を禁じている(すべての x∈Dx \in D に (x,y)∉S(x, y) \notin S となる yy がある)ならば、どんなテスト集合 TT についても (1) の gg が存在する。
  3. 逆に DD が有限で T=DT = D ならば、「ff が TT に合格する」ことと「ff が仕様を満たす」ことは同値である。

本文で読む(証明と前後の説明)→

閉包の状態

✓ 公理まで証明済み

証明が使う定理を 前提 としてたどると、Rikai の中の証明だけで定義・公理(物理では基本仮定)までつながっています。

印の意味: ✓公理まで証明済み ・ △証明あり(閉包未完)・ ※主張のみ。テーマごとの集計は 閉包の状況。

前提をたどる 証明が使う定理・定義

証明は Rikai の他の定理を参照していません(定義と論理だけで示されています)。

これを使っている定理

証明で明示的に参照している定理は、まだありません。